Trabalho de grupo de pesquisa do Cefet/RJ é apresentado em conferência internacional
O artigo “The Temperature Mobility Degradation Influence On The Zero Temperature Coefficient Of Ellipsoidal MOSFET”, desenvolvido pelo grupo de pesquisa Teoria e Técnicas de Eletrônica, do núcleo de projetos da coordenação do curso técnico de Eletrônica do Cefet/RJ Unidade Maracanã, foi selecionado para a conferência internacional Chip in the Minuano 2022. O trabalho foi apresentado na última sexta-feira (26).
De acordo com os responsáveis pela pesquisa, o objetivo do trabalho é verificar, em ambas as regiões eletrônicas de operação linear e de saturação, a influência, em função da temperatura, da degradação do parâmetro mobilidade sobre o ponto de polarização invariante com a temperatura nos inovadores dispositivos de estado-sólido tipo MOSFET, com construção geométrica elipsoidal de gate. O trabalho foi produzido em conjunto por docentes e um ex-aluno do Cefet/RJ e por professores do Centro Universitário da Fundação Educacional Inaciana, de São Bernardo do Campo (SP).
Leia o artigo na íntegra, em inglês.
Sobre o evento
Desde 2000, as conferências Symposium on Integrated Circuits and Systems Design (SBCCI) e Symposium on Microelectronics Technology (SBMicro) uniram forças e são organizadas no mesmo local, com o nome Chip in Somewhere. Este ano, o evento foi realizado de forma virtual no Rio Grande do Sul, entre os dias 22 e 26 de agosto. O nome Chip in the Minuano se deve à corrente fria de ar do sudoeste que, normalmente, afeta o estado e é chamada de “vento minuano”.
Além das conferências, o evento reúne um fórum de negócios microeletrônicos e estandes de feira, com a proposta de oferecer um ambiente de grande alcance para discussões e oportunidades científicas e tecnológicas em Microeletrônica.
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